新一代垂直 Laue 晶体取向系统
Photonic Science 背向反射 Laue 系统提供 3 种配置 – 垂直、水平和晶粒映射 – 可实现低至 0.1° 的实时晶体取向。
高分辨率晶体取向系统是从各种晶体材料中捕获和分析劳厄衍射图样的理想工具。PSEL Laue 定向工具结合了高分辨率 CCD X 射线探测器、高亮度 X 射线束和专用的 Laue 软件，可在几秒钟内提供精度为 0.1° 的标定 Laue 衍射测量。
特点和优点
- 提供 Vertical、Horizontal 和 Grain Map 配置
- 即插即用的紧凑型机柜系统 – 无需定制工作台或其他服务
- 全自动和电动 XYZ 载物台和测角仪，提供手动选项
- CCD 背向反射、高分辨率、高灵敏度 X 射线探测器
- 风冷式 X 射线源 – 无需冷水机
- 450 μm 标准光束和 250 μm 精细聚焦光束尺寸
- 使用板载高分辨率观察摄像头快速、精确地对准小晶体
- 距离测量工具，用于精确和可重复的样品定位，适用于垂直配置
- 专用的 Laue 软件，用于完全控制、数据采集、处理和分析
- 高通量样品筛选选项
应用
晶体生长
实时晶体取向
晶体表征
晶体切割
光伏检测
多晶硅片的二维取向映射
半导体晶体
涡轮叶片检查
晶圆检测
闪烁晶体生长
系统选项
| 大活动区域 | 155 mm x 105 mm |
| 高分辨率 | 2,570 x 1,710 |
| 输入像素大小 | 61 μm x 61 μm |
| 光斑尺寸 | 450 μm 标准，250 μm 精细聚焦 |
| 能量范围 | 5 至 29 keV |
| 源 | 50W |
| 手动选项 | 手动 XYZ 载物台和测角仪 |
| 电动选项 | 电动 XYZ 载物台和测角仪 |
| 无测角仪选项 | 电动 XYZ 载物台 – 无测角仪 |
| 精细对焦选项 | 仅垂直配置 |
| 定制解决方案 | 提供完全可定制的系统 |
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